10-3系列通孔兩點式塞規 DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作！

10-2系列通孔兩點式塞規 DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作！

S3系列兩瓣式塞規產品簡介： DIATEST兩瓣式測量系統用于測量孔直徑。采用模塊化設計,使用附加附件可以測量大多數種類的孔。此量儀可以對產品進行分組控制,適用于實驗室。 S3系列兩瓣式塞規由于量儀有多種不同類型,因此可以測量各種孔,如盲孔、槽寬等

DIATEST塞規測量座 CS 200測量座DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作！